
La métrica inflada que puede costar miles de millones: el espejismo de rendimiento en transistores 2D
Una arquitectura de laboratorio usada durante casi dos décadas puede inflar hasta 6 veces el desempeño de transistores 2D. El hallazgo no solo reordena papers: obliga a auditar cómo se decide el capital en I+D y quién define los benchmarks.
Isabel Ríos6 min






































